19842703026
当前位置:首页 > 产品中心 > 半导体分析测试设备 > TEM Mill 精密离子减薄仪
产品分类
半导体分析测试设备
查看全部产品
相关文章
TEM Mill 精密离子减薄仪 功能介绍: 1. 样品载台X-Y可调,可根据需要调整样品减薄位置 2. 具备原位实时观察及记录减薄过程功能 3. 样品可360°连续旋转或摇摆,离子束自动避让样品夹 4. 可通过时间、温度以及透光性自动停止 5. 可选液氮冷台配置,去除热效应对样品的损伤 6.可选真空或惰性气体转移装置,隔绝样品与水氧接触
在线咨询
电话
微信扫一扫
返回顶部