接触角测试仪 技术参数： 1. 光学成像系统：基础照度0.001Lux、水平600线工业级黑白相机，放大倍率0.7~4.5X 2. 进样系统：基础进样量可控制为70pL，可自动进液 3. 样品台移动控制：X-Y 100*100mm（可定做）, Z 25mm 4. 样品台尺寸：100*100mm（可定做）技术参数

傅里叶红外光谱仪 一、应用：用于半导体材料内部含量检测,同质外延厚度测量和其他应用，用于*进的半导体工厂，在硅生长和器件制造领域进行材料表征 二、技术参数： 1.光谱范围：远红外、中红外、近红外、可见光 2. 信噪比：55000:1 3.光谱分辨率（cm-1）：0.09电阻率: 1.0μ - 300.0k Ω.cm

四探针电阻率测试仪的应用：半导体材料、太阳能电池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)，新材料、功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、Ag纳米线等)、导电薄膜(金属、离子等)，扩散层，硅相关外延材料，离子注入样品。

冷热冲击试验箱 技术参数： 1. 温度范围：周围环境温度+50 +200℃ -70~0℃ 3温区 2. 高温曝露到+200℃：15分钟以内 3. 常温曝露：5分钟 4. 低温曝露：-65℃15分钟

高低温(湿热) 试验箱 产品概述： 1. 新型冷冻机的使用，实现了大范围、高精度的温湿度控制 2. 40 模式可编程控制器、具有多种语言选择、试验数据U 盘存储 3.故障追溯功能、试验箱发生故障之前的运行状态会被自动记录并保存

立式高温试验箱简述：满足各种产品、零部件及材料在高温恒温环境下贮存、运输、使用时间适应性试验要求。采用定值和程序两种控制。定值控制可进行自动开始结束设定，适合于生产线热处理干燥处理。程序控制可进行10个模式，每个模式20步的程序设定。满足有温度上升、下降斜率设定的温度特性试验。