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四探针电阻率测试仪

简要描述:四探针电阻率测试仪的应用:半导体材料、太阳能电池材料(硅、多晶硅、碳化硅等),新材料、功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、Ag纳米线等)、导电薄膜(金属、离子等),扩散层,硅相关外延材料,离子注入样品。

  • 产品型号:customized
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-09-06
  • 访  问  量: 638

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详细介绍

一、产品概述:

四探针电阻率测试仪是一种精密测量工具,专用于评估各种材料的电阻率,尤其在半导体和材料科学领域中具有重要应用。该设备通过其特殊的四探针设计,能够提供高精度和快速的电阻率测量,适用于不同类型的固体材料。

二、设备用途/原理

·设备用途

四探针电阻率测试仪广泛应用于半导体材料的研发、电子元件的性能测试以及新材料的电性能评估。它能够帮助研究人员和工程师深入理解材料的导电特性,从而推动新技术的开发和应用。

·工作原理

该仪器的工作原理基于四个探针的布局,其中外侧探针施加已知电流,内侧探针测量因电流通过材料而产生的电压降。通过欧姆定律和几何因素的计算,仪器能够准确得出材料的电阻率,减少接触电阻带来的误差,从而提高测量的准确性。

三、主要技术指标:

1. 应用:半导体材料、太阳能电池材料(硅、多晶硅、碳化硅等),新材料、功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、Ag纳米线等)、导电薄膜(金属、离子等),扩散层,硅相关外延材料,离子注入样品

2. 样品尺寸:基于所选择的平台而定,圆形样品大支持300mm(12 inch),或方形大尺寸730x920mm

3. 测量范围:

    V/I 电阻: 1.0m - 3.0M Ω

    方阻: 5.0m - 10.0M Ω/sq

    电阻率: 1.0μ - 300.0k Ω.cm


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