Comet Yxlon开发了CTScan 3线探测器阵列（LDA），以满足客户的特殊要求和具有挑战性的应用。凭借其前未有的信噪比、动态范围和 254 μm 的像素间距，它是对大型和/或密集组件进行清晰检测的解决方案。它设计用于高达 600 kV 的工作电压，可减少不必要的散射辐射，并提供低噪声电子设备和高效闪烁体。

UNECS系列是可以高速、高精度测量薄膜膜厚和折射率的分光椭偏仪。采用的测量方式，实现了高速测量和机体的小型化。 我们的产品阵容包括便携式，自动式和对应真空环境的设备内置式类型。

SE 401adv 通过映射高达 200 毫米的液体单元、用于原位测量的液体单元、摄像机、自动对焦、模拟软件和经过认证的标准晶圆，可根据您的需求进行调整。

SENTECH SER 800 PV光谱椭偏仪符合PERC、TOPCON、HJT和钙钛矿技术等新型太阳能电池技术的研发要求。它操作简单，具有高测量灵敏度、去偏振校正和特殊的聚光光学元件，使其成为在粗糙样品表面上进行光伏应用的理想工具

多角度激光椭偏仪 SE 400adv PV 在 HeNe 激光波长为 632.8 nm 时，在纹理单晶和多晶硅片上提供抗反射单膜的膜厚度和折射率。可更换晶圆支架允许在多晶硅片和碱性纹理单晶硅片上进行测量。

SENTECH RM 1000 QC反射仪设计用于快速简单地测量透明或吸收基材上的透明和半透明薄膜的厚度，用于工业生产过程中的质量控制。该工具涵盖 20 nm 至 50 μm 的膜厚范围，可用于 100 μm 的测试图案。